序號

檢驗方法

適用參數(shù)及
范圍（μm）

說明

1

樣塊
比較法

直接目測：
R_a>2.5；
用放大鏡：
R_a >
0.32～0.5；

　　以表面粗糙度比較樣塊工作面上的粗糙度為標準， 用視覺法或觸覺法與被測表面進行比較，以判定被測表面是否符合規(guī)定；     
　　用樣塊進行比較檢驗時，樣塊和被測表面的材質(zhì)、加工方法應盡可能一致；     
　　樣塊比較法簡單易行，適合在生產(chǎn)現(xiàn)場使用

2

顯微鏡
比較法

R_a <0.32

　　將被測表面與表面粗糙度比較樣塊靠近在一起，用比較顯微鏡觀察兩者被放大的表面，以樣塊工作面上的粗糙度為標準，觀察比較被測表面是否達到相應樣塊的表面粗糙度；從而判定被測表面粗糙度是否符合規(guī)定。此方法不能測出粗糙度參數(shù)值

3

電動
輪廓儀
比較法

R_a ：
0.025～6.3
R_z：
0.1～25

      電動輪廓儀系觸針式儀器。測量時儀器觸針_在被測表面上垂直于加工紋理方向的截面上，做水平移動測量，從指示儀表直接得出一個測量行程R_a值。這是R_a值測量_常用的方法。或者用儀器的記錄裝置，描繪粗糙度輪廓曲線的放大圖，再計算R_a或R_z值。此類儀器適用在計量室。但便攜式電動輪廓儀可在生產(chǎn)現(xiàn)場使用

4

光切
顯微鏡
測量法

R_z：
0.8～100

　　光切顯微鏡（雙管顯微鏡）是利用光切原理測量表面粗糙度的方法。從目鏡觀察表面粗糙度輪廓圖像，用測微裝置測量R_z值和R_y值。也可通過測量描繪出輪廓圖像，再計算R_a值，因其方法較繁而不常用。必要時可將粗糙度輪廓圖像拍照下來評定。光切顯微鏡適用于計量室

5

干涉
顯微鏡
測量法

R_z：
0.032～0.8

　　干涉顯微鏡是利用光波干涉原理，以光波波長為基準來測量表面粗糙度的。被測表面有_的粗糙度_呈現(xiàn)出凸凹不平的峰谷狀干涉條紋，通過目鏡觀察、利用測微裝置測量這些干涉條紋的數(shù)目和峰谷的彎曲程度，即可計算出表面粗糙度的R_a值。必要時還可將干涉條紋的峰谷拍照下來評定。干涉法適用于精密加工的表面粗糙度測量。適合在計量室使用